宇宙射线对汽车电子系统的损伤分析

　　如果厂商在乘员传感器和安全气囊控制模块中采用百万门的 SRAM FPGA，把这个 1.054E-4 的 SEU 发生概率换算成每天每系统的 SEU 发生概率就是 4.38E-06，或者说系统的 FIT 值为 4,375。这意味着如果该厂商在 50 万辆车中采用这种百万门 SRAM FPGA 实现的安全系统，这个 1.054E-4 的 SEU 发生概率乘以路上的车辆/系统数量，就得到该车辆群体中每天总计会发生 52.5 次 SEU 事件(假设车辆一直在运行)。这就相当于每 27.4 分钟出现一次 SEU。即使假定这些车辆平均每天只行驶两小时，每天仍然会发生两起 SEU。由于这些故障是固件故障，因此会持续下去，直到 SRAM FPGA 被重新加载 (通常需要重新上电或强制重新配置)。

　　在目前的半导体技术中，器件中的软错误已经受到高度关注。随着器件尺寸不断缩小，大家都认识到这种软错误将成为大问题；这些错误可能会极大地降低系统的可用性。因此在许多应用场合中，人们都强烈要求避免出现软错误，使到系统的可用性维持在可以接受的水平。

在选择 FPGA 时，最重要的是评估每一种可编程体系的总体拥有成本，并选择那些拥有本质上可靠的核心技术的供应商，而不是为较低档次要求应用而设计的二等品质供应商提供的商业级产品。

　　如果采用 SRAM FPGA 来设计，设计人员就必须增加检测和校正配置错误的电路，因而会增加系统成本和复杂性。幸运的是，设计人员还有别的选择。辐射测试数据表明，以反熔丝和 Flash 技术为基础的 FPGA 不易于出现因中子导致的 SEU 事件而造成配置数据丢失。这使它们特别适用于要求高可靠性的应用。

　　现在，想象一个稍微不同的场景：你以每小时 75 英里的速度驾驶着最新款的汽车在高速公路奔驰，耳畔聆听着流行的歌曲。由于知道引擎管理系统中采用的是以非易失性 Flash 为基础的 FPGA，而不是基于 SRAM 的FPGA，你可以继续推杆加速，享受着舒适和无忧的旅程。